吳正信

Wu, Jenq-Shinn・電機學院

碩士畢業時長
2.10 年
中位數・平均 2.10 年・2 人(樣本太少)
全校 2.11 年
博士畢業時長
7.08 年
中位數・平均 7.08 年・1 人(樣本太少)
全校 6.17 年
收錄論文
4 篇
106–112 學年度

畢業時長只統計 碩士 100–111、博士 100–106 學年度入學的學生:太近的入學年度還有同屆沒畢業,算進來會讓時長看起來偏短,詳見說明。下表與圖中灰色的論文不列入統計。

畢業時長趨勢

每學年度畢業人數

只計入有論文收錄的畢業生;中途休學或更換指導教授的學生不會出現在這裡。

研究關鍵字

分子束磊晶鋁薄膜Molecular Beam Epitaxy變質緩衝層銻化物碲化鎵摻雜Metamorphic Buffer LayerAntimonidesAluminum Thin FilmGaTe Doping閘極調變效應氮化鈦薄膜gate modulationaluminum filmstitanium nitride films鋁奈米線超導臨界溫度電晶體aluminum nanowiressuperconductorcritical temperaturefield-effect transistors鋁奈米薄膜分子數磊晶Aluminum Nanofilm

點關鍵字可以找研究同一主題的其他教授(灰色的只出現過一次,不列入搜尋)。 想看最新的研究方向與計畫經費,也可以查政府研究計畫(GRB)。

指導論文

學年度論文學制入學提交日期畢業時長
112
Growth of Antimonide on GaAs Substrate Using Ultrathin Metamorphic Buffer Layers
電子研究所・共同指導:林聖迪
分子束磊晶、變質緩衝層、銻化物、鋁薄膜、碲化鎵摻雜、Molecular Beam Epitaxy、Metamorphic Buffer Layer、Antimonides、Aluminum Thin Film、GaTe Doping
博士1052023-09-017.08 年
111
Gate modulation effect in nano-scale aluminum and titanium nitride thin films
電子研究所・共同指導:林聖迪
分子束磊晶、閘極調變效應、鋁薄膜、氮化鈦薄膜、molecular beam epitaxy、gate modulation、aluminum films、titanium nitride films
碩士1092022-09-222.14 年
108
Superconducting characteristics and electrical device measurements of aluminum-channel nanowires
電子研究所・共同指導:林聖迪
鋁奈米線、超導、臨界溫度、電晶體、aluminum nanowires、superconductor、critical temperature、field-effect transistors
碩士106—無法計算
106
Epitaxial Growth and Characteristics Analysis of Aluminum Nanofilms
電子研究所・共同指導:林聖迪
鋁奈米薄膜、分子數磊晶、Aluminum Nanofilm
碩士1042017-08-222.06 年

↑ ↓ 選擇 Enter 前往 Esc 關閉